Przeskocz do głównej zawartości



Katedra Mechaniki i Inżynierii Obliczeniowej
Wydział Mechaniczny Technologiczny, Politechnika Śląska
44-100 Gliwice, ul. Konarskiego 18A
tel. +48 32 2371204   fax. +48 32 2371282

Strona główna
Przedmioty
Pliki do pobrania
Kontakt
  

Skip Navigation Links
Struktura Katedry
Oferta współpracy
LaboratoriaExpand Laboratoria
Nasi absolwenci
Wydarzenia
PracownicyExpand Pracownicy

Dydaktyka
Skip Navigation Links
Prace dyplomowe
Projekty inżynierskie
Specjalności
Przedmioty
Pliki do pobrania
Podręczniki i skrypty
Praktyki studenckie
Koła naukoweExpand Koła naukowe

Działalność
naukowa
Skip Navigation Links
Profil naukowy
Przykłady badańExpand Przykłady badań
Projekty badawcze
Rozprawy doktorskie
Konferencje naukowe

<sierpień 2022>
PnWtŚrCzPtSoN
25262728293031
1234567
891011121314
15161718192021
22232425262728
2930311234

Systemy pomiarowe

Kierunek: Mechanika i Budowa Maszyn
Semestr: II (2 stopień)
Punkty ECTS: 2

Specjalność: MB4
Prowadzący: dr hab. inż Wacław Kuś prof. Pol. Śl., dr hab. inż. Arkadiusz Poteralski, dr hab. inż. Grzegorz Kokot



Opis przedmiotu

Na zajęciach laboratoryjnych przedstawiane są systemy pomiarowe stosowane w mechanice eksperymentalnej. Prowadzone są praktyczne ćwiczenia z wykorzystaniem nowoczesnych kontrolerów maszyn wytrzymałościowych, wideoekstensometrów, ekstensometrów, laserowych czujników przemieszczeń, układów pomiarów drgań, systemów termowizyjnych.


Program

Laboratorium30 godzin w semestrze


Tematyka wykładów
  1. Podstawowe informacje o systemach pomiarowych
  2. Kontrolery MTS cz.1
  3. Kontrolery MTS cz.2
  4. Praktyczne pomiary wielkości mechanicznych z użyciem kontrolera MTS
  5. Rozproszone systemy pomiarowe
  6. Przetworniki A/C C/A
  7. Pomiary z użyciem ekstensometrów
  8. Wideoekstensometria
  9. Pomiary termowizyjne
  10. Systemy pomiarów tensometrycznych HBM cz. 1
  11. Systemy pomiarów tensometrycznych HBM cz. 2
  12. Systemy pomiarów drgań, kalibracja toru pomiarowego
  13. Systemy pomiarów drgań LMS
  14. Systemy pomiarów drgań LMS
  15. Kolokwium zaliczeniowe

Warunki zaliczenia

  • obecność na laboratoriach
  • zaliczone sprawozdania
  • pozytywna ocena na kolokwium zaliczeniowym

Literatura

  • Waldemar Nawrocki, Komputerowe systemy pomiarowe, WKŁ, 2006
  • Waldemar Nawrocki Rozproszone systemy pomiarowe, WKŁ, 2006
  • Świsulski Dariusz, Komputerowa technika pomiarowa. Oprogramowanie
    wirtualnych przyrządów pomiarowych w LabVIEW, Agenda Wydawnicza PAK-u, 2005

Linki


 

           webadmin


© Copyright MiIO. Wszelkie prawa zastrzeżone. Wszelkie materiały tekstowe, zdjęciowe, graficzne, dźwiękowe, filmowe zamieszczone na stronach są prawnie chronione i stanowią własność intelektualną MiIO.
Kopiowanie dla celów komercyjnych, dystrybucja, modyfikacja oraz publikacja, bez pisemnej zgody Kierownika Katedry Mechaniki i Inżynierii Obliczeniowej są zabronione.

Zasady wykorzystywania „ciasteczek” (ang. cookies) w serwisach internetowych Politechniki Śląskiej